上海电子产品跌落测试

参考标准：ASTM D 5276-98(2009)

通常跌落高度大都根据产品重量以及可能掉落机率做为参考标准，落下表面应该是混凝土或钢制成的平滑、坚硬的刚性表面(如有要求应以产品规格或客户测试规范来决定)。通常是主要用来模拟未包装/包装的产品在搬运期间可能受到的自由跌落，考察产品抗意外冲击的能力。
对于不同国际规范即使产品在相同重量下但掉落高度也不相同，对于手持型产品(如手机, MP3等)大多数掉落高度大都介于100cm ~ 150cm 不等，IEC 对于≦2kg 之手持型产品建议应满足100cm 之掉落高度不可损坏，MIL 则建议掉落高度为122cm，Intel 对手持型产品(如手机)则建议落下高度为150cm。
试验的严苛程度取决于跌落高度、跌落次数、跌落方向。
产品跌落测试方法有哪些?
生活当中的80%的电子产品损坏大都来源于跌落碰撞，研发人员往往耗费大量的时间和成本，针对产品做相关的质量试验，常见的结构试验就是跌落与冲击试验。这种方法可靠，但也存在很多不足之处，主要表现在：
1.试验的操作实施过程需要耗费大量的人力、财力，从而增加产品的成本。
2.试验发生的历程很短，很难观察到试验过程中的现象。
3.试验测试的条件(如碰撞角度等)难以控制，使得试验重复性很差。
4.试验一般只能得到试验结果，而很难观察现象发生的原因。
5.试验时很难观察产品的内部特性和内部现象，如加速度响应等。

适用于评定包装件在受到垂直跌落时的抵挡能力及包装对内装物的保护能力。

跌落试验程序通常情况下可以参照亚标检测实验室的如下步骤：
1、试验前样板的准备。
2、试验前须测试产品的功能、*及外观检查,确定正常之后方可进行跌落试验。
3、须按规定的方法包装样品（参照生产指令或规格书）,且配件不可漏放。
4、若对封箱有特别要求（如打带）则按要求进行，若无特别要求则:包盒用2寸透明胶纸封箱,外卡通箱用3寸透明胶纸封箱。
5、测试样品不可少于2整箱或4PCS成品。
6、跌落顺序。
7、接缝边之底角。
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