常州步入式温湿度循环测试

高低温冲击试验目的是考察被试样品在突然遭到温度剧烈变化时之抵抗能力及适应能力的 试验高低温冲击试验主要用于考察剪切和疲劳损伤引起的失效。特别在元器件存在虚弱部位 具有开路隐患时，或由于元器件材料和结构设计不当具有开裂隐患时，高低温冲击试验具有 较好的鉴别效果。该实验一般用高低温冲击试验箱。
试验原理
温度的剧烈变化伴随着热量的剧烈变化，热量的剧烈变化引起热变形的剧烈变化，从而引起剧 烈的应力变化。应力**过极限，产品便会出现裂纹、甚至断裂。热冲击之后能否正常工作便表 明该被试样品的抗热冲击能力。

亚标检测实验室已取得中国合格评定会实验室认可证书（CNAS）和国家计量资质认定证书（CMA），实验室完全按照国际标准ISO/IEC17025：2005《检测和校准实验室能力的通用要求》管理和运行，具备向社会出具公正性检测报告的。

随着电子技术的发展，电子产品的集成化程度越来越高，结构越来越细微，工序越来越多，制造工艺越来越复杂，这样在制造过程中会产生一些潜伏缺陷。电子产品在生产制造时,因设计不合理、原材料或工艺措施方面的原因引起产品的质量问题概括有两类：
类是产品的性能参数不达标，生产的产品不符合使用要求；
第二类是潜在的缺陷，这类缺陷不能用一般的测试手段发现，而需要在使用过程中逐渐地被暴露，如硅片表面污染、组织不稳定、焊接空洞、芯片和管壳热阻匹配不良等等。
一般这种缺陷需要在元器件工作于额定功率和正常工作温度下运行一千个小时左右才能全部被*(暴露)。显然，对每只元器件测试一千个小时是不现实的，所以需要对其施加热应力和偏压，例如进行高温功率应力试验，来加速这类缺陷的提早暴露。也就是给电子产品施加热的、电的、机械的或多种综合的外部应力，模拟严酷工作环境，*加工应力和残余溶剂等物质，使潜伏故障提前出现，尽快使产品通过失效浴盆特性初期阶段，进入高可靠的稳定期。
通过高温老化可以使元器件的缺陷、焊接和装配等生产过程中存在的隐患提前暴露，老化后再进行电气参数测量，筛选剔除失效或变值的元器件，尽可能把产品的早期失效消灭在正常使用之用，从面保证出厂的产品能经得起时间的考验。

热老化设备内工作空间的任何点应满足以下要求：
1. 能保持热老化所需要的低温。
2.能保持热老化所需要的高温。
3. 由高温到低温或者由低温到高温的变化过程，能按照老化所需要的温度变化速率进行。
4.功能板的安装与支撑
5. 功能板应以正常使用位置安装在支架上。
6. 功能板的支架的热传导应是低的，以使功能板与支架之间实际上是隔热的。
7.功能板的支架应是绝缘的，以确保受试功能板与支架之间不漏电。
8.电功率老化设备
9. 电功率老化设备应保证提供老化功能板所需要的电压和电流，并能提供可变化的输入信号，并可随时检测每块功能伴。
10. 电功率老化设备应保证在老化过程中不应老化设备的缘故而中途停机。
老化
热老化条件20 如无其他规定，温度循环范围应为：0~60℃或?10~60℃，可自行选定。
 温度变化速率（由低温到高温或者由高温到低温的变化过程中的平 均值）1±0.5℃/min.
热老化时间至少为72h。
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