上海低温老化测试

（高温运行、高温贮存）的目的是确定军民用设备、零部件在常温条件下储存和工作的储存、使用的适应性及耐久性。确认材料高温下的性能。

为能正确观察与验证产品在高温环境下之热效应，同时避免因湿度效应影响试验结果，标准中对于试验前处理、试验初始检测、样品安装、中间检测、试验后处理、升温速度、温度柜负载条件、被测物与温度柜体积比等均有规范要求。

高温条件下试件的失效模式 产品所使用零件、材料在高温时可能发生软化、效能降低、特性改变、潜在破坏、氧化等现象。

参考标准：

IEC 60068-2-2:2007《电工电子产品环境试验 *2部分:试验方法 试验B：高温》

GJB128A-97 《半导体分立器件试验方法》

MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》

GJB4.2-83《舰船电子设备环境试验 高温试验》

GJB360A-96 电子及电气元件试验方法 方法108高温寿命试验

MIL-STD-202F《电子及电气元件试验方法》

GJB548A-96 《微电子器件试验方法和程序》

MIL-STD-883D 《微电子器件试验方法和程序》

SJ/T 10325-92《汽车收放机环境试验要求和试验方法》4.1 高温负荷试验

SJ/T 10325-92《汽车收放机环境试验要求和试验方法》4.2 高温贮存试验

GB/T13543-92《数字通信设备环境试验方法》

QC/T 413-2002《汽车电气设备基本技术条件》

YD/T 1591-2009《移动通信手持机充电器及接口技术要求和测试方法》